T400超聲掃描顯微鏡-聲學(xué)掃描顯微鏡-超聲C掃描無損檢設(shè)備-超聲SAT/SAM
超聲掃描顯微鏡(SAM)是一種利用超聲波為傳播媒介的無損檢測成像設(shè)備,主要利用高頻超聲波,對各類器件、材料進(jìn)行檢測,能夠檢測出樣品內(nèi)部的氣孔、裂紋、夾雜和分層等缺陷,并以圖形的方式直觀展示。在掃描過程中,不會(huì)對樣品造成損傷,不會(huì)影響樣品性能,Hiwave T400G是面向陶瓷托盤產(chǎn)品質(zhì)控需求推出的專款超掃設(shè)備。
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